Máy phân tích thành phần kim loại và độ dày lớp phủ iEDX-200AThương pháp đoPhân tích năng lượng X-ray phân tánLoại mẫu Nhiều lớp/ Rắn/ lỏng/ bộtỐng X-rayNguồn W 50kVp, 1mABộ lọc5 bộ lọc tự độngHệ thống phát hiệnSDD(Silicon Drift Detector), Si-Pin ...